金融界 2024 年 10 月 31 日消息，国家知识产权局信息显示，成都翌创微电子有限公司申请一项名为“一种在 DFT 模式下的芯片鉴权装置及方法”的专利，公开号 CN 118837729 A，申请日期为 2024 年 9 月。
专利摘要显示，本发明公开了一种在 DFT 模式下的芯片鉴权装置及方法，涉及集成电路设计和测试领域。装置包括依次连接的 JTAG 接口电路、DFT 测试控制电路和待测试芯片逻辑电路；JTAG 接口电路包括 JTAG 调试接口和调试接口鉴权寄存器，分别用于接收和暂存输入的秘密值；DFT 测试控制电路包括 DFT 鉴权逻辑模块和 DFT 控制逻辑模块，DFT 鉴权逻辑模块用于比较被测芯片的固定 key 值与输入的秘密值是否相等，输出 DFT 鉴权使能信号到 DFT 控制逻辑模块；DFT 控制逻辑模块用于根据 DFT 鉴权使能信号进行 DFT 测试模式的切换和进行 DFT 测试；待测试芯片逻辑电路包括系统鉴权逻辑。本发明通过在 DFT 测试控制电路中加入 DFT 鉴权逻辑代替系统鉴权逻辑，把系统鉴权逻辑纳入 DFT 测试范围，从而提高 DFT 测试率，提高芯片良率。
本文源自：金融界
作者：情报员
版权声明：本文内容由互联网用户自发贡献，该文观点仅代表作者本人。本站仅提供信息存储空间服务，不拥有所有权，不承担相关法律责任。如发现本站有涉嫌侵权/违法违规的内容， 请发送邮件至 举报，一经查实，本站将立刻删除。
如需转载请保留出处：https://bianchenghao.cn/bian-cheng-ri-ji/5228.html