BIST分为logic bist和memory bist（MBIST）。
logic bist测试随机逻辑电路。
memory bist 测试存储器电路，通过输入不同组数值测试sram存储器有没有坏点，需要将自检的硬件逻辑加到rtl里面。
存储器电路模型：地址译码器、读写控制逻辑、存储单阵列
MBIST测试对象是RAM或ROM
MBIST电路图
1、向量产生电路
2、BIST控制电路（由状态机组成）
3、响应分析器（用比较器、MISR（multiple input register多输入移位寄存器）构成）
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