dft课程_DFT计算

本博文是博主记录DFT实训教程的笔记版本，此笔记并没有对所有的知识进行记录，仅仅以自身的认知水平，来记录了一些部分笔记并加上了自己的理解。

Scan synthesis practice

How to design scan clock structure?
假设一块chip里面有好几十个clock domain，如果每一个clock domain都用一个scan clock虽然会非常清晰，但是IO数目肯定不够用。
clock group:
1、no crosstalk
2、less crosstalk
3、functional clock frequency

如何理解串scan时候的不同沿触发的寄存器

脚本：

#configure library
set search_path "$search_path ./netlist ./lib"
在原来的search_path的基础上做一个补充
set target_library { 
   ./lib/typical.db}
该命令主要是在逻辑综合中用，为了脚本的一致性，也放在这里。
set link_library { 
   * ./lib/typical.db}
需要去找这里library的定义
#read and link the design
read_verilog -netlist ./netlist/top.v
读取netlist文件
current_design top
设置顶层文件
link
做一个链接
#configure_DFT
set_scan_configure -chain_count 1
配置一条chain
set_dft_signal -type ScanClock -port clk -view existing_dft -timing { 
   45 55}
#preview and inset DFT
create_test_protocol
dft_drc
现在做分析
preview_dft
先根据分析结果，给出preview的报告
insert_dft
真正去做DFT scanchain
dft_drc
再做一遍DFT drc
#write out design information
report_scan_path -view existing_dft -chain all
write -formate verilog -hierarchy -output netlist/top_scan.v
write_test_protocol -output generated/scan.spf
exit

如上图所示，对于那些已经存在的，已经链接好的，可以拿来直接使用的port，就可以用existing_dft命令，所以脚本里面对于clk是用的exsiting，如果是对SE的话，就必须用spec了。
对于还没有串，没有链接的port，就必须用spec端口来指定。比如SE端口，就需要用spec来指定为ScanEnable。
现在读入netlist文件，该文件是如上图所示的两个负沿触发的reg和两个正沿触发的reg，并且我们设置了1条chain，如下图所示，报告除了violation

如下图所示，虽然我们指定了chain count=1但是tool还是做成了两条chain，其中一条chain包含了2条cell，另一个chain也包含了两条cell

查看已经串好的scan的netlist，验证确实是两条chain，也就是工具默认情况下，是不允许这种双沿的串在一起。现在需要更改工具这中默认的行为。
查看set_scan_configuration 这条命令的文档。
后面有一个参数是-clock_mix no_mix | mix_edges | mix_clocks | mix_clocks_not_edges
也就是说-clock_mix有四个变量选项：
1、no_mix代表的是任何情况下都不能去混合时钟
2、mix_edges代表同一个clock domain 不同clock edge可以去混合串不同edge的reg
3、mix_clocks代表不同clock domain，不同edge都可以放在一条scan chain上面。
4、mix_clocks_not_edges代表不同的clock domain可以混合，但是，不同的edges不可以混合。

现在在脚本里面更改

set_scan_configuration -clock_mixing mix_edges

如下图所示，当重新运行脚本之后，Scan path变为了1条，chain length变为了4

退出dc的gui使用gui_stop
通过检查scan insetion后的netlist后发现，工具将负沿在前面，正沿在后面。为什么需要这样串chain？

如上图所示，关键一点，在一个cycle内，数据会被捕获两次，从而导致两个正沿在前负沿在后的两个寄存器的值保持了相同，被绑定。导致经过这个跨沿的后续reg均错误得到值。
总结：越晚capture的cell越放在前面去，这样保证他不能立即capture到前面cell最新的那个值

如上图所示，对于一个design来说我们可能有多个clk_domain，虽然每个clk_domain分别链接一个clk最清晰，但是我们很可能没有这么多个clk port。

如下图所示，现在将这四个cell串起来，假设第二个和第三个reg之间的路径比较长，就会导致严重的skew的问题。

如下图所示，可以分为下面两种情况，对于第二种情况，如果skew过大后，就可能导致抓取的是最新的值，而不是前一个cycle的值。从而形成了两个寄存器之间的数据一直是绑定的。

如何解决这个问题？

如上图所示，为了解决这个问题，需要在时钟域之间加上一个lockup latch，这个lockup latch电平触发，与前面一个reg的触发沿取相反值。
当加了一个反的lockup latch之后，相当于将数据延迟了半个cycle，延迟到了下降沿的位置，只要skew不超过半个cycle，就可以保证clk2不会抓到最新的那个值。
如下图所示，因为加个反向的lockup latch可以将数据延迟半个时钟周期。从而相当于把clk2的捕获沿在前面，clk1的捕获沿在后面。当使用不同的clk domain时候，如果将scan串起来，工具会自动加上lockup latch。


在做DFT时候，经常用到的signal总结如下
Scan clock:
Reset/Set is also treated as a clock
Scanenable:it is 1 in shift, when capture it is 0
Scan mode/Test mode: always 1 in the whole test mode
Scan input/Scan output

Scan Design Rules-clock
这个cell能不能串到scan chain上面去的标准是什么？
scan chain是不是能够正确的shift in shift out 是这个方法的基础，也就是说如果我把这个cell串到scan chain上面去，那他的shift in shift out是否会有问题。

如上图所示，后面两个cell的时钟受到了一个与门的控制，并且受到了Q的输出的影响，因为工具把前面三个cell串起来后，在shift 阶段，Q的值是变化的，从而导致经过与门后面的时钟是变化的，所以，如果将后面两个串起来的话，后面两个cell就没法正确的shift了。
而我们想做的是一个full scan，那么在不影响function的情况下如何解决这个问题。上面设计属于为了节约功耗low power而设计的一种门控。

如上图所示，通过增加一个mux而解决了clk可控的问题。
在predft阶段主要是针对clock和set/reset的问题。

同样如上图所示，由于reset被cell/Q控制，从而在shift阶段，你没法控制这个cell的值，所以没法串到chain上面去，解决的方法，要么是用autofix，要么反馈给Designer修改设计。

clock gating cell的设计
clock gating cell的目的就是为了省power，在这些逻辑不工作的时候，我可以通过clock gating cell 来省power，如果用与门来控制就会产生glitch。通常有两种设计：这个在综合的时候可以在综合的时候交个工具替换，添加：

如上图a所示，输入的时钟是010，如上图b所示，输入的时钟是101。

值得思考的问题：
1、除了MUX-D scan cells，再列出两种scan cell并简述
2、Measure PO的动作可以发生在capture之后吗？为什么
3、详细分析为什么lockup latch能解决clock skew的问题？
4、create a test case with reset scan violation and then fix them with EDA tool Autofix feature。

简单介绍如何使用autofix
通过在脚本中增加新的脚本command：

set_dft_configuration -fix_clock enable
set_autofix_configuration -type clock

第一条命令是希望工具能fix clock相关的问题，默认是disable的，所以这里需要enbale
第二条命令是auto fix的配置，告诉他fix clock相关的问题，这样的话，工具就会fix clock相关的问题。

今天的文章dft课程_DFT计算分享到此就结束了，感谢您的阅读。